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와이드 밴드갭(WBG) 반도체의 세계에서 첨단 제조 공정이 '영혼'이라면, 흑연 서셉터는 '백본', 표면 코팅은 중요한 '스킨'이다.

위험이 큰 전력 전자 분야에서 실리콘 카바이드(SiC)와 갈륨 질화물(GaN)은 전기 자동차(EV)에서 재생 가능 에너지 인프라에 이르기까지 혁명을 주도하고 있습니다. 그러나 이러한 재료의 전설적인 경도와 화학적 불활성으로 인해 엄청난 제조 병목 현상이 발생합니다.

반도체 제조에서 CMP(Chemical Mechanical Planarization) 공정은 웨이퍼 표면 평탄화를 달성하기 위한 핵심 단계로, 후속 리소그래피 단계의 성공 여부를 직접적으로 결정합니다. CMP의 핵심 소모품인 연마슬러리(Polishing Slurry)의 성능은 제거율(RR)을 제어하고 불량을 최소화하며 전체 수율을 향상시키는 궁극적인 요소입니다.